TEM
透射电子显微镜
一、原理
球差校正透射电镜通过控制电子束的聚焦位置和形状,以及使用校正器来克服球差的影响,从而实现亚埃级的高分辨成像,获得原子的位置和排布情况;同时, Super X能谱系统及Mono EELS系统可获得相应的化学环境和电子结构信息。
二、设备型号、关键性能参数
设备型号:Themis Z
关键性能参数:
HAADF分辨率:≤ 0.06 nm( 300 kV),≤ 0.140 nm( 80 kV );具备Super X能谱仪系统,具备四分割式EDX探头;具备Gatan GIF 965 ,拥有Dual EELS功能;EELS能量分辨率:≤ 0.25 eV (300 kV,激发单色器Mono);≤ 0.85 eV (300 kV,未激发Mono);
三、应用
原子结构、价态分析、元素分析、低剂量电子束成像